电表老化房 又叫烧机老化房，老化房或老化试验室，是针对高性能电子产品（如：机算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各企业提高产品质量和竞争性的重要流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

主要功能：为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先藉由电能表老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条
件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问
题。
    在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现
故障，电能表老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由
老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。
  在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障，
电能表老化之后的器件基本上要求****消除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的方法是参照以前收集到
的老化故障及故障分析统计数据，而大多数厂商则希望减少或者取消老化。 
  电能表老化制程****要确保工厂的产品

电能表高温通电老化房

性能特点：

采用库板单元组合，内容积可任意放大，拆装容易，可依客户需要尺寸设计，并配合顾客扩厂时的迁移。

科学的空气流通设计，避免任何死角，使室内温度分布均匀。

每个产品都根据客户的要求订做，保证了设备的适用性和、节能。

极高的稳定性及实用性。

的外观、合理的设计。

使用的安全及高可靠性。

超静音。

可扩展性。

老化房/高温老化房／高温老化室/高温房/恒温房/高温室主要技术数

1、P为可程式，S为标准型。

2、A，B，C，D，E代表温度范围(A:75℃;B: 85℃;C: 120℃;D: 150;E: 300℃)。

3、可按要求配备制冷系统。

4、可配备多点温度采集及显示。