电工电子产品环境试验第2部分：试验

方法试验Cab：恒定湿热试验

1   范围

     GB/T 2423的本部分适用于确定电工电子产品、元件或设备在高湿度的条件下使用、贮存、运输时的适应性。

     本部分规定了试验的严酷等级，如高温度、高湿度和持续时间等．本部分适用于散热和非散热样品。

    本部分适用于小型设备及元件，同时也适用于与试验箱外的测试装置有复杂联接的大型设备，这种联接需要一定的装配时间。在安装期间，可以不用预热或维持特定的试验条件．

2   规范性引用文件

    下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否GB/T 2421--1999版本．凡是不注日期的引用文件，其版本适用于本部分。

    GB／T 2421一l999电工电子产品环境试验第1部分：总则(idt IEC 60068-1：1988)

    GB／T 2423.2--2001  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验B：高温试验

  (idt IEC 60068-2-2.1974)

3   概述

    在本试验中，将样品置于同为试验室温度的试验箱内。

    试验箱内的条件应符合第5章所规定的严酷等级，并持续到规定的时间。

    由于散热样品的影响'可能引起试验箱内的温度和湿度条件与规定的试验条件不同，则这两个参数的测量应按自由空气条件的测量方法进行测量（参见GB/T 2421--1999中的4.4及4.6.2）。

4   试验箱

    试验箱及其测量系统应满足如下要求：

    a)  工作空间内应装有监测GB/T 2421--1999器。对于散热样品的稳态湿热试验，传感器在工作空间内的安放位置应按GB／T 242l一1999的有关规定进行；

    b)  工作空间内的温度和相对湿度应在考虑到放入样品的影响时，其值仍在规定的容差范围内变化。第5章所给出的温度容差考虑了测量的**误差及温度渐变；

        对于散热样品，样品附近的温度和相对湿度由于受到样品本身的影响，与GB/T 2421—1

规定的位置测得的数据不同；

    c)  凝结水应连续排出试验箱外，未经净化的水不能重复使用；

    d)  试验箱内壁和顶部的凝结水不应滴落到试验样品上；

    e)  试验箱内湿度用水的电阻率应保持不小于500 Q.m：

    f)  试验样品不能受来自试验箱发热元件的直接热辐射；

    g)有喷雾系统的试验箱内，样品应远离喷射口，且湿气不可直接喷到样品上。

4.1  散热样品的试验

     试验箱的容积至少为散热样品体积的5倍。   

     试验样品与试验箱壁的距离应按GB/T 24;23.2--2001附录A中的规定执行。箱内的气流速度应与所要到达的试验条件相当。

4.2  样品的安装

    相关规范规定了试验样品的安装架，并可再现或模拟实际使用中的样品热特性条件I若不能达到这些条件，则安装架应对样品与其周围环境之间进行热量与湿度交换的影响小。

5    严酷等级

    试验的严酷等级由试验持续时间、温度、相对湿度共同决定。

除非相关规范规定，试验的温度、相对湿度应从表1的组合中选择：

表1试验的温度、相对湿度表

    推荐的持续时间为：12 h、16h、24 h和2d、4d、10d、21 d或56 d。

    考虑到测试时的**误差、温度渐变以及工作空间内的温差，本部分中规定的温度容差为士2K。为了维持试验箱内的相对湿度在规定的容差范围内，****保持试验箱内的任意两点在任何时间内其温度差异尽可能的小。若温差超过1K，则不能达到所需的湿度条件．短期的温度波动也****保持在士0.5K范围内以维持所要求的湿度条件。

6   初始检测

    按有关标准的规定对试验样品进行外观检查，对其电气和机械性能进行检测．

7   条件试验

    条件试验应按如下程序进行：

    a)   除非有特殊规定，将无包装、不通电的试验样品，在“准备使用”状态下，置于试验箱内，试验箱和试验样品均处于标准大气环境条件下．

    在特定的时候，允许试验样品在达到试验条件时放入试验箱内，且应避免样品产生凝露，对于小型样品可通过预热方式达到该项要求。

    b)   调整试验箱内温度，到达所要求的严酷等级，且使样品达到温度稳定．

    在GB/T 2421—1999的4.8中对温度稳定的定义进行规定。温度变化的速率不超过1 K/ min，达到温度稳定的平均时间不超过5min，且在这一过程中不应产生样品凝露现象。

    c)  在这一过程中．可以通过不提高箱内的**湿度来避免样品冷凝现象的发生．

    d)  在2h之内，通过调整箱内的湿度达到规定的试验严酷等级。

    e)  样品暴露在按规定试验等级要求的试验条件下，待工作空间内的温度和相对湿度达到规定值并稳定后，开始计算试验持续时间．

    f)  相关规范规定了试验条件及试验持续时间．

    g)  试验后应进行恢复阶段．

8  中间检测

有关规范可以提出在条件试验期间或结束时试验样品仍留在试验箱内进行检测，如果需要进行这种检测时，有关规范应规定检测的项目及完成这些测量的时间．在进行这种检测时，试验样品不应取出箱外．

9    恢复

     相关规范中对试验后的样品是在标准大气条件下（见GB/T2421—1999中的5.3）还是在特定条件下（见GB/T 2421--1999中的5.4.1）进行恢复进行了规定，如样品需在特定的条件下进行恢复，则应将样品移人另一试验箱内或仍留在原试验箱内．

    若需将样品转移到另外试验箱中恢复时，则转移样品的时间应尽可能的短．

    若留在试验箱中恢复时，应在0.5h内将相对湿度降到73%～77%．然后在0.5h内将温度调节到试验室的温度，且温度容差为士1K．

    按相关规范规定，恢复时间应从符合恢复条件时开始计算．

10  检测

    根据有关规范规定，对试验样品的外观进行检查，对其电气和机械性能进行检测．

11  相关规范中给出的信息

    有关规范采用本试验方法时，应对下述各项作出具体规定：

    所给出的信息                               章、条号

  a)试验样品的安装（如需要）                      4.2

    b)试验严酷等级和持续时间                          5

  ——温度

  ——相对湿度

    ——持续时间

    c)  初始检测                                      6

    d)  条件试验                                      7

    e)  中间检测                                      8

    f)  恢复                                          9

    g)  检测                                     10

附录A

（资料性附录）

GB/T 2423 《电工电子产品环境试验》的结构

    GB/T 24236电工电子产品环境试验》包括如下部分：

    GB/T 2423.1--2001  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A；低温(idt IEC 60068-

2-I；1990)；

    GB/T 2423.2--2001  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温(idt IEC 60068-2-2:1974)；

    GB/T 2423.3--2006  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验Cab：恒定湿热试验(IEC 60068-2-78:2001,IDT);

    GB/T  2423.  4--1993  电工电子产品基本环境试验规程  试验Db：交变湿热试验方法(eqv IEC 60068-2-30:1980);

    GB/T 2423.5--1995  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验Ea和导则：冲击

(idt IEC 60068-2-27.1987)；

    GB/T 2423.6--1995  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验Eb和导则，碰撞

(idt IEC 60068-2-29:1987)l

    GB/T 2423.7--1995  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法  试验Ec和导则：倾跌与翻倒（主要用于设备型样品型）(idt IEC 60068-2-31：1982)；

    GB/T2423.8--1995  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验Ed：自由跌落

(idtlEC 60068-2-32:1990);

    GB/T 2423.10--1995  电工电子产品环境试验，**部分：试验方法  试验ED：自由跌落(idt IEC 60068-2-6:1982):

    GB/T 2423.11--1997  电工电子产品环境试验，**部分：试验方法  试验FD：宽频带随机振动一般要求(idtlEC 60068-2-34:1973)；

    GB/T 2423.12--1997  电工电子产品环境试验，**部分：试验方法  试验Fda；宽频带随机振动——高再现性(idt IEC 60068-2-35:1973)；

    GB/T2423.13--1997  电工电子产品环境试验，**部分：试验方法   试验Fdb；宽频带随机振动——中再现性(idt IEC 60068-2-36：1973)；

    GB/T 2423. 14--1997  电工电子产品环境试验，**部分，试验方法  试验Fdc；宽频带随机振动——低再现性(idt IEC 60068-2-37.1973)I

    GB/T 2423.15--1995  电工电子产品环境试验，**部分 试验方法  试验Ga和导则：稳态加速度(idt IEC 60068-2-7~1973);

    GB/T 2423.1~--1999  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验J和导则：长霉

(idt IEC 60068-2-10. 1988);

    GB/T 2423.17--1993  电工电子产品基本环境试验规程试验Ka：盐雾试验方法(idt IEC 60068-2-1121981)；

    GB/T 2423.18--2000电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb。盐雾，交变（氯化钠溶

液）(idt IEC 60068-2-1)l

    GB/T 2423.19--1981  电工电子产品基本环境试验规程，试验Kc-接触点和连接件的二氧化硫试验方法(idt IEC 60068-2-42：1976》

    GB/T 2423.20--1981  电工电子产品基本环境试验规程，试验Kd.接触点和连接件的硫化氢

试验方法(idt IEC 60068-2-43：1976)；

    GB/T2423.21--1991  电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法(neqIEC 60068-2-13:1983);

    GB/T 2423.22--2002  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验N：温度变化(IEC 60068-2-14: 1984, IDT):

    GB/T2423.23--1995  电工电子产品环境试验，试验Q：密封；

    GB/T2423.24--1995  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法试验Sa：模拟地面上的太阳辐射(idtIEC 60068-2-5：1975);

    GB/T 2423.25--1992电工电子产品基本环境试验规程  试验2/AM：低温／低气压综合试验

(neq IEC 60068-2-40.. 1976):

    GB/T 2423.26--1992  电工电子产品基本环境试验规程  试验Z/BM：高温／低气压综合试验

(neq IEC 60068-2-41: 1976);

    GB/T 2423.27--2005  电工电子产品基本环境试验规程  试验2/AMD：低温／低气压／湿热连续综合试验方法（IEC 60068-2-39：1976，lDT，代替GB/T 2423.27--1981）l

    GB/T 2423.  28--2005  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验T：锡焊法(IEC 60068-2-20.1979,IDT，代替GB/T 2423.28--1982)l

    GB/T 2423.29--1999电工电子产品环境试验第2部分：试验方法  试验u：引出端及整体安

装件强度(idt  IEC 60068-2-21：1992)：

    GB/T 2423.30--1999电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则：在清洗

剂中浸渍(idt lEC 60068-2-45：1993)；

    GB/T 2423.31--1985  电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法；

    GB/T 2423.32--1985  电工电子产品基本环境试验规程  润湿称量法可焊性试验方法

(eqv IEC 60068-2-54)l

    GB/T 2423.33--2005  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验Kca：高浓度二氧化硫试验（代替GB/T 2423.33--1989）：

    GB/T 2423.34--1986  电工电子产品基本环境试验规程  试验2/AD：温度／湿度组合循环试验方法(idt IEC 60068-2-38：1974);

    GB/T 2423.35--2005  电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/Aft：散热和非散

热试验样品的低温／振动（正弦）综合试验方法(IEC60068-2-50:1983,IDT，代替GB/T 2423.35--

1986)；

    GB/T 2423.36--1986  电工电子产品基本环境试验规程，试验Z/BFc：散热和非散热样品的高温／振动（正弦）综合试验方法（IEC 60068-2-51：1983．IDT，代替GB/T 2423.36--1986)；

GB/T2423.37—2006  电工电子产品环境试验  第2部分；试验方法  试验L：砂尘试验

(IEC 60068-2-68 : 1994,IDT) ；

    GB/T2423.38--2005  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验R：水试验方法

(IEC60068-2-18:2000,IDT，代替GB/T 2423.38--1990、GB/T2424.23--1990)~

    GB/T 2423.39---1990  电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法；

    GB/T 2423.40--1997  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验cx：未饱和高压蒸汽

恒湿热(idt IEC 60068-2-66：1994);

    GB/T 2423.41--1994  电工电子产品基本环境试验规程环境风压试验方法I

    GB/T 2423.42--1995电工电子产品环境试验低温／低气压／振动（正弦）综合试验方法，

    GB/T 2423.43--1995  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法  元件、设备和其他产品在冲击(Ea)、碰撞(Eb)、振动（Fc和Fd）和稳态加速度(Ga)等动力学试验中的安装要求和导则

 ([dt IEC 60068-2-47:1982)；

    GB/T 2423.44--1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eg。撞击  弹簧锤

(eqv IEC60068-2-63:1991)；

    GB/T 2423.45--1997  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM。气候顺序

(idt IEC 60068-2-61,1991)；

  GB/T 2423.46--1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法  试验Ef：撞击摆锤(idt IEC 60068-2-62,1993；

    GB/T 2423.47--1997  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验Fg：声振

(idt IEC 60068-2-65: 1993)；

    GB/T 2423.48--1997  电工电子产品环境试验  第2部分。试验方法试验Ff:振动——时间历程法(idt IEC 60068-2-57 s 1989)，

    GB/T2423. 49--199?  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fe：振动——正弦拍

频法(idt IEC 60068-2-59.1990)；

    GB/T2423.50--1999  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验CY.恒定湿热主要用于元件的加速试验(idt IEC 60068-2-67：1995)；

    GB/T 2423.51--2000  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法试验Ke:流动混合气体腐蚀试验(idt IEC 60068-2-60:1995)l

    GB/T 2423.52--2003  电工电子产品环境试验第2部分t试验方法试验77z结构强度与撞击

(IEC 60068-2-77: 1999, IDT)；

    GB/T 2423.53--2005  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Xb：由手的摩擦造成

标记和印刷文字的磨损(IEC 60068-2-70：1995)；

    GB/T 2423.54--2005  电工电子产品环境试验  第2部分：试验方法  试验XB：流体污染

(IEC 60068-2-74.1999 ,IDT)；

    GB/T 2423. 55--2006  电工电子产品环境试验  第2部分。试验方法  试验Eh。锤击试验

(IEC 60068-2-75:1997, IDT)；

   GB/T 2423.56--2006  电工电子产品环境试验第2部分：试验方法  试验Fh。宽带随机振动

（数字控制）和导则(IEC 60068-2-64=1993，IDT)